Projecten per jaar
Persoonlijk profiel
Opleiding / Academische kwalificatie
electrical engineering, Ph.D
Externe posities
principal member of the technical staff, Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum
1 jan 2005 → …Vingerafdruk
Verdiep u in de onderzoeksgebieden waarop Bertrand Parvais actief is. Deze onderwerplabels komen uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
- 1 Soortgelijke profielen
Netwerk
Recente externe samenwerking op landen-/regioniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken of
Projecten
- 1 Actief
-
IOF3016: GEAR: Zich wagen aan toekomstige gezondheidstechnologieën
Stiens, J., Wambacq, P., da Silva Gomes, B. T., Sahli, H., Vandemeulebroucke, J., Jansen, B., Lemeire, J., Steenhaut, K., Munteanu, A., Deligiannis, N., Schelkens, P., Kuijk, M., Parvais, B., Chan, C. W., Van Schependom, J., Touhafi, A., Braeken, A., Runacres, M., Cornelis, B., Schretter, C., Blinder, D. & Temmermans, F.
1/01/21 → 24/12/25
Project: Toegepast
Onderzoeksoutput
-
A BSIM-Based Predictive Hot-Carrier Aging Compact Model
Xiang, Y., Tyaginov, S., Vandemaele, M., Wu, Z., Franco, J., Bury, E., Truijen, B., Parvais, B., Linten, D. & Kaczer, B., mrt 2021, 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9405222. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; vol. 2021-March).Onderzoeksoutput: Conference paper
-
Analog performance of GaN/AlGaN high-electron-mobility transistors
de Oliveira Bergamim, L. F., Parvais, B., Simoen, E. & Caño de Andrade, M. G., sep 2021, In : Solid-State Electronics. 183, 108048.Onderzoeksoutput: Article
-
Compact Modeling of Multidomain Ferroelectric FETs: Charge Trapping, Channel Percolation, and Nucleation-Growth Domain Dynamics
Xiang, Y., Bardon, M. G., Kaczer, B., Alam, M. N. K., Ragnarsson, L-A., Kaczmarek, K., Parvais, B., Groeseneken, G. & Houdt, J. V., apr 2021, In : IEEE Transactions on Electron Devices. 68, 4, blz. 2107-2115 9 blz., 9336322.Onderzoeksoutput: Article
2 Citaten (Scopus) -
Cryogenic temperature DC-IV measurements and compact modeling of n-channel bulk FinFETs with 3–4 nm wide fins and 20 nm gate length for quantum computing applications
Gupta, S., Rathi, A., Parvais, B. & Dixit, A., nov 2021, In : Solid-State Electronics. 185, 108089.Onderzoeksoutput: Article
-
DC and RF Characterization of Nano-ridge HBT Technology Integrated on 300 mm Si Substrates
Yadav, S., Vais, A., Elkashlan, R. Y., Witters, L., Vondkar, K., Mols, Y., Walke, A., Yu, H., Alcotte, R., Ingels, M., Wambacq, P., Langer, R., Kunert, B., Waldron, N., Parvais, B. & Collaert, N., 10 jan 2021, EuMIC 2020 - 2020 15th European Microwave Integrated Circuits Conference. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., blz. 89-92 4 blz. 9337489. (EuMIC 2020 - 2020 15th European Microwave Integrated Circuits Conference).Onderzoeksoutput: Conference paper
1 Citaat (Scopus)