Knipprath, H., Thibaut, L., Buyse, M-P., Ceuppens, S., De Loof, H., De Meester, J., Goovaerts, L., Struyf, A., Boeve-De Pauw, J., Depaepe, F., Deprez, J., De Cock, M., Hellinckx, L., Langie, G., Struyven, K., Van de Velde, D., Van Petegem, P. & Dehaene, W., jun 2018, In : IEEE Instrumentation & Measurement Magazine.21, 3, blz. 36-405 blz.