Onderzoeksoutput per jaar
Onderzoeksoutput per jaar
Persoonlijk profiel
Externe posities
Research fellow, IMEC VZW
1 jan. 2001 → …
Vingerafdruk
Verdiep u in de onderzoeksgebieden waarop Nadine Collaert actief is. Deze onderwerplabels komen uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
- 1 Soortgelijke profielen
Samenwerkingen en hoofdonderzoeksgebieden uit de afgelopen vijf jaar
Recente externe samenwerking op landen-/regioniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken of
-
Perspectives on GaN MISHEMT Power Amplifier Versus Positive Gate Bias Instability
Yu, H., ElKashlan, R., Tsai, M-C., Yang, Y., Guenach, M., Kuo, Y-C., Yadav, S., Sullivan, B. O., Rathi, A., Gupta, A., Xiao, D., Desset, C., Alian, A., Peralagu, U., Afanasiev, V., Wu, T-L., Parvais, B. & Collaert, N., mei 2025, 2025 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2025 - Proceedings. 2025 redactie Monterey, CA, USA: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2025, blz. 11C.1-1-11C.1-6 6 blz. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings).Onderzoeksoutput: Conference paper
1 Citaat (Scopus) -
Physical Insights into High Current Collapse under ON-state Stress in RF GaN HEMTs
Gupta, A., Yu, H., Yadav, S., Alian, A., Peralagu, U., Jang, E-S., Kuo, Y-C., Collaert, N. & Parvais, B., mei 2025, 2025 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2025 - Proceedings. 2025 redactie Monterey, CA, USA: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2025, blz. 9A.3-1-9A.3-6 6 blz. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings).Onderzoeksoutput: Conference paper
-
Toward Understanding Stability of RF MIS-HEMTs under ON/SEMI-ON/OFF-State Pulses with Scaling in-situ SiN Thicknesses
Yang, Y., Yu, H., Tsai, M-C., Lin, W-T., Kuo, Y-C., Sullivan, B. O., Rathi, A., Gupta, A., Yadav, S., Alian, A., Peralagu, U., Parvais, B., Collaert, N. & Wu, T-L., mei 2025, 2025 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2025 - Proceedings. 2025 redactie Monterey, CA, USA: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2025, blz. P73.RF-1-P73.RF-5 5 blz. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings).Onderzoeksoutput: Conference paper
-
A CMOS compatible III-v-on-300 mm SI technology for future high-speed communication systems: Challenges and possibilities
Vais, A., Kumar, A., Boccardi, G., Yadav, S., Mols, Y., Alcotte, R., Vermeersch, B., Ingels, M., Peralagu, U., Roda Neve, C., Ghyselen, B., Parvais, B., Wambacq, P., Kunert, B. & Collaert, N., 22 aug. 2024, Key Enabling Technologies for Future Wireless, Wired, Optical and Satcom Applications. River Publishers, blz. 27-40 14 blz.Onderzoeksoutput: Chapter › Research › peer review
-
AlN/Si interface engineering to mitigate RF losses in MOCVD grown GaN-on-Si substrates
Cardinael, P., Yadav, S., Hahn, H., Zhao, M., Banerjee, S., Esfeh, B. K., Mauder, C., Sullivan, B. O., Peralagu, U., Vohra, A., Langer, R., Collaert, N., Parvais, B. & Raskin, J-P., 3 apr. 2024.Onderzoeksoutput: Voordruk › peer review
Bestand10 Downloads (Pure)