THINFILM: Karakterisatie van dunne filmen op ruwe staaloppervlakken.

Nieuwe en innovatieve deklagen hebben vaak een dikte van minder dan 1µm. Voor zo'n dunne lagen is off of in line inspectie een zeer moeilijke zaak. Vaak omdat er een gebrek is aan methodologie, gebrekkige interpretatie van de data of onbestaande gecertificeerde referentiepreparaten.
Het doel van dit project is de volledige karakterisering (dikte, samenstelling, homogeniteit) in de diepte als lateraal in de laagopbouw van een aantal zorgvuldig geselecteerde deklagen. Tevens wordt aandacht besteed aan het effect van de oppervlakteruwheid van zeer dunne lagen die momenteel industrieel belangrijk worden geacht.
De industrie (automobiel, verpakking, luchtvaart en bouw) werkt typisch met lagen waarvan de dikte varieert in een range van 0.5 tot 1000nm.
Het uiteindelijke doel is om een round robin uit te voeren met belangrijke oppervlakte analyse methoden (gebruikt in de staalindustrie) en te vergelijken met meer niet conventionele methoden minder bekend in de industrie. Complementariteit, snelheid, toegankelijkheid en kosten worden daarbij vergeleken. In het finale rapport zal de resultaten bevatten van een round robin, procedures en richtlijnen voor de analyse van dunne lagen op industriële ruwe substraten zullen opgesteld worden.