Analysis of Gate-Metal Resistance in CMOS-Compatible RF GaN HEMTs

R. Y. ElKashlan, R. Rodriguez, S. Yadav, A. Khaled, U. Peralagu, A. Alian, N. Waldron, M. Zhao, P. Wambacq, B. Parvais, N. Collaert

Onderzoeksoutput: Article

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Analysis of Gate-Metal Resistance in CMOS-Compatible RF GaN HEMTs'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science