Back Barrier Trapping Induced Resistance Dispersion in GaN HEMT: Mechanism, Modeling, and Solutions

Hao Yu, B. Parvais, U. Peralagu, R. Y. Elkashlan, R. Rodriguez, A. Khaled, S. Yadav, A. Alian, M. Zhao, N. De Almeida Braga, J. Cobb, J. Fang, P. Cardinael, A. Sibaja-Hernandez, Nadine Collaert

Onderzoeksoutput: Conference paperResearch

1 Citaat (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Back Barrier Trapping Induced Resistance Dispersion in GaN HEMT: Mechanism, Modeling, and Solutions'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemistry