Vingerafdruk
Duik in de onderzoeksthema's van 'DC and RF Characterization of Nano-ridge HBT Technology Integrated on 300 mm Si Substrates'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.- Sorteer per
- Gewicht
- Alfabetische volgorde
DC and RF Characterization of Nano-ridge HBT Technology Integrated on 300 mm Si Substrates
S. Yadav, A. Vais, R. Y. Elkashlan, L. Witters, K. Vondkar, Y. Mols, A. Walke, H. Yu, R. Alcotte, M. Ingels, P. Wambacq, R. Langer, B. Kunert, N. Waldron, B. Parvais, N. Collaert
Onderzoeksoutput: Conference paper
3
Citaten
(Scopus)