Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

High total dose gamma radiation assessment of commercially available SiGe heterojunction bipolar transistors

Onderzoeksoutput: Conference paper

6 Citaten (Scopus)

Samenvatting

no abstract
Originele taal-2English
TitelProc. SPIE
Volume5897
StatusPublished - 2005
EvenementUnknown - Stockholm, Sweden
Duur: 21 sep. 200925 sep. 2009

Publicatie series

NaamProc. SPIE
Nummer58970C

Conference

ConferenceUnknown
Land/RegioSweden
StadStockholm
Periode21/09/0925/09/09

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'High total dose gamma radiation assessment of commercially available SiGe heterojunction bipolar transistors'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit