Ion yield enhancement at the organic/inorganic interface in SIMS analysis using Ar-GCIB

V. Cristaudo, C. Poleunis, P. Laha, P. Eloy, T. Hauffman, H. Terryn, A. Delcorte

Onderzoeksoutput: Articlepeer review

8 Citaten (Scopus)
21 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Ion yield enhancement at the organic/inorganic interface in SIMS analysis using Ar-GCIB'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemistry