Measurement and modeling of the sensitivity of LC-VCO’s to substrate noise perturbations

Stephane Bronckers, Gerd Vandersteen, Charlotte Soens, G. Van Der Plas, Yves Rolain

Onderzoeksoutput: Conference paperResearch

3 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Measurement and modeling of the sensitivity of LC-VCO’s to substrate noise perturbations'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Physics & Astronomy