Use of spectro-scopic ellipsometry to study Zr/Ti films on Al

Onderzoeksoutput: Articlepeer review

43 Citaten (Scopus)
Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)677 - 680
TijdschriftSurface and Interface Analysis
Volume34
Nummer van het tijdschrift1
StatusPublished - 2002

Bibliografische nota

Surface and Interface Analysis, 34 (2002) 677-680

Citeer dit